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激光对CCD及CMOS图像传感器的损伤阈值研究  
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【英文篇名】 STUDY ON THRESHOLD OF LASER DAMAGE TO CCD AND CMOS IMAGE SENSORS
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【作者】 林均仰; 舒嵘; 黄庚华; 方抗美; 闫志新;
【英文作者】 LIN Jun-Yang; SHU Rong; HUANG Geng-Hua; FANG Kang-Mei; YAN Zhi-Xin(Shanghai Institute of Technical Physics; Chinese Academy of Sciences; Shanghai 200083; China);
【作者单位】 中国科学院上海技术物理研究所;
【文献出处】 红外与毫米波学报 , Journal of Infrared and Millimeter Waves, 编辑部邮箱 2008年 06期  
期刊荣誉:中文核心期刊要目总览  ASPT来源刊  中国期刊方阵  CJFD收录刊
【中文关键词】 激光干扰; CCD图像传感器; CMOS传感器; 损伤阈值; 激光;
【英文关键词】 laser interference; CCD image sensors; CMOS sensors; damage threshold; laser;
【摘要】 针对激光对CCD及CMOS图像传感器的干扰损伤进行了理论分析和实验研究.实验测量出常压及真空条件下1064nm激光对CCD及CMOS图像传感器的干扰阈值、损伤阈值及完全损坏阈值.实验结果表明,CCD或CMOS图像传感器的各种阈值在常压和真空两种不同条件下的差别不明显.实验结果还显示,无论在常压还是在真空条件下,CCD比CMOS更容易受到激光的干扰和损伤甚至严重损坏;而CMOS相机具有很好的抗干扰和抗损伤能力.
【英文摘要】 Theoretical analyses and experimental research were done on the laser-induced interference and damage to CCD and CMOS image sensors.The 1064nm laser interference threshold,damage threshold and completely destroy threshold of CCD and CMOS image sensors were measured under atmospheric pressure condition and vacuum condition respectively.Experimental results show that the three aforementioned thresholds of CCD or CMOS sensors have no obvious differences under the two different pressure conditions.Experimental ...
【基金】 863(2007AA12Z105)资助项目
【更新日期】 2009-01-20
【分类号】 TP212
【正文快照】 引言随着激光能量的不断提高及其应用范围的日益扩大,激光对物质或器件的损伤作用问题越来越突出,引起了日益广泛的重视,人们对此开展了专门的研究得到了大量的实验结果并获得了许多重要结论.目前主要的成像器件有CCD和CMOS图像传感器两种.国内已有对这两种器件在大气工作状态?

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