【作者】 冯松林； 冯向前； 范东宇； 雷勇； 程琳； 徐清； 沙因； 黄宇营； 何伟；

【Author】 Songlin Feng Xiangqian Feng Dongyu Fan Chen Lin Yong LeiQing Xu Yin Sha Huang Yuying He Wei Institute of High Energy Physics, Chinese Academy of Sciences P. O. Box 918, Beijing 100039, P. R. China

【机构】 中国科学院高能物理研究所中国科学院核技术重点实验室；

【摘要】 随着科学的发展,分析技术在许多研究领域发挥了重要作用,在材料、地质、环境和生命等科学研究中X射线荧光微分析和无损分析精度的要求不断提高,分析的样品量或分析尺度越来越细化,获得了许多新颖的研究成果。中国科学院高能所的国家同步辐射实验室的同步光斑已降到10μm×10μm,分析样品量为μg～mg量级。在PIXE技术基础上发展起来的扫描质子微探针(SPM),最小光斑达到0.1μm,国内SPM的最小光斑为1微米左右,已应用于材料、地质、环境和生命科学研究。目前我国的有证标准物质的最小取样量为100mg,微分析和无损微分析中缺乏标准样品或标准物质,在实验中难以实施分析质量控制和实现定量分析,这已成为微分析中期待解决的问题。我们将经过高温处理的土壤进行反复研磨,当99.8%的粉末通过200目时,加以技术处理后进一步研磨,达到99%的粉末通过500目,用中子活化和同步辐射X荧光分析了元素分布均匀性,取样量将到1mg时,分析的33个元素中Sc、Cr、Co、Rb、Cs、La、Ce、Nd、Sm、Tb、Yb、Lu、Hf、Ta、Th、U的含量仍然是均匀和稳定的,分析结果表明这16个元素的最少取样量能够到达1mg,可以用于地质、环境和材料等研究中的能散X荧光(EDXRF)、质子激发X荧光(PIXE)和同步辐射X荧光(SRXRF)微分析的质量控制和定量分析。更多还原