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组合逻辑电路中竞争冒险现象的研究

A Study on Competitive Adventure in Combinatorial Logical Circuit

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【作者】 刘太刚王永强

【Author】 LIU Tai-gang1,WANG Yong-qiang2 (1.Life Science and Technology Department,Xinxiang Medical College,Xinxiang 453003,China;2.Department of Physical Chemistry,Henan Polylechnical University,Jiaozuo 454000,China)

【机构】 新乡医学院生命科学技术系物理与电子信息教研室河南理工大学物理化学系 河南新乡453003河南焦作454000

【摘要】 根据组合逻辑电路中竞争冒险现象的理论,用实验的方法,研究了竞争冒险现象中对集成门电路多余输入端的处理问题。从而在实验上得出了处理门电路多余输入端的一般性结论。

【Abstract】 According to the theory of competitive adventure phenomenon in combinatorial logical circuit,the disposal of integrated gate circuit’s extral input end in competitive adventure phenomenon is researched by experiments.Therefore,the general conclusion of disposing gate circuit’s extral input end is attained in experiment.

  • 【文献出处】 新乡师范高等专科学校学报 ,Journal of Xinxiang Teachers College , 编辑部邮箱 ,2007年02期
  • 【分类号】TN791
  • 【被引频次】1
  • 【下载频次】234
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