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基于原子力显微的多模式扫描探针显微镜

Discussion of multimode scanning probe microscope based on AFM

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【作者】 吴斌黄致新王辉张峰

【Author】 Wu Bin Huang Zhixin Wang Hui Zhang Feng(College of Physical Science and Technology,HuaZhong Normal University,Wuhan 430079)

【机构】 华中师范大学物理科学与技术学院华中师范大学物理科学与技术学院 武汉430079武汉430079

【摘要】 扫描探针显微镜是目前世界上分辨率最高的显微镜之一,也是纳米技术研究的主要工具。本文在分析原子力显微镜工作原理的基础上,探讨多模式扫描探针显微镜的相关功能,并对扫描探针显微镜的发展前景进行展望。

【Abstract】 Scanning probe microscope can reach atomic resolution,and it is important for nano-technology.Based on the discussion of the principle of atomic force microscope,the function of multimode scanning probe microscope has been investigated.And the developing prospects of the scanning probe microscope have been stated at last.

【基金】 湖北省自然科学基金资助项目,项目编号2005ABA041
  • 【文献出处】 现代仪器 ,Modern Instruments , 编辑部邮箱 ,2007年01期
  • 【分类号】TH742
  • 【被引频次】15
  • 【下载频次】551
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