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基于原子力显微的多模式扫描探针显微镜
Discussion of multimode scanning probe microscope based on AFM
【摘要】 扫描探针显微镜是目前世界上分辨率最高的显微镜之一,也是纳米技术研究的主要工具。本文在分析原子力显微镜工作原理的基础上,探讨多模式扫描探针显微镜的相关功能,并对扫描探针显微镜的发展前景进行展望。
【Abstract】 Scanning probe microscope can reach atomic resolution,and it is important for nano-technology.Based on the discussion of the principle of atomic force microscope,the function of multimode scanning probe microscope has been investigated.And the developing prospects of the scanning probe microscope have been stated at last.
【关键词】 扫描探针显微镜;
原子力显微镜;
多模式;
【Key words】 Scanning probe microscope Atomic force microscope Multimode;
【Key words】 Scanning probe microscope Atomic force microscope Multimode;
【基金】 湖北省自然科学基金资助项目,项目编号2005ABA041
- 【文献出处】 现代仪器 ,Modern Instruments , 编辑部邮箱 ,2007年01期
- 【分类号】TH742
- 【被引频次】15
- 【下载频次】551