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K荧光辐射强度与管电压关系实验研究

Experiment Research on Relationship Between Radiation Intensity and Voltage of K-fluorescent in Ag Secondary Target

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【Author】 WEN Ting-ting,TAN Da-gang(College of Physics Science and Technology,Shenyang Normal University,Shenyang 110034,China)

【机构】沈阳师范大学物理科学与技术学院；沈阳师范大学物理科学与技术学院辽宁沈阳110034；辽宁沈阳110034；

【摘要】利用反射式阳极产生K荧光的装置,用Ag作为次级靶进行测量,得出不同电压下的K荧光光子数与管电压之间的关系,拟合出K荧光辐射强度的公式.更多还原

【Abstract】 The relationship between K-fluorescent photons and tube voltage is studied by using the reflection anode tube devices in Ag secondary target.A new K-fluorescent X-ray radiation intensity formula is refined.更多还原

【关键词】 K荧光X射线；辐射强度；次级靶；
【Key words】 K-fluorescent X-ray； radiation intensity； secondary target；

【基金】辽宁省教育厅高等学校科技基金资助项目(202113192)

【文献出处】沈阳师范大学学报(自然科学版) ,Journal of Shenyang Normal University(Natural Science Edition) , 编辑部邮箱 ,2007年03期

【分类号】O434.1
【被引频次】1
【下载频次】38

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