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数字集成电路参数测试仪的设计

Design of the numerical integrated circuit parameter test instrument

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【作者】 谢一菁

【Author】 XIE Yi-jing(Department of Electronic Engineering,Zhangzhou Institute of Technology,Zhangzhou, Fujian,363000,China)

【机构】 漳州职业技术学院电子工程系 福建漳州363000

【摘要】 以AT89C51单片机为核心设计了一种简易数字集成电路参数的测试仪器。测试仪采用多值参数比较法,利用单片机的数学运算和控制功能,对数字IC进行功能测试,同时完成各项直流参数测试,并通过8279键盘控制来实现测量中的量程自动切换及各路测试项目的参数显示。

【Abstract】 With the AT89 C51 single slice machine as the core,a kind of test instrument of simple and numerical integrated circuit parameter is designed.This test instrument adopts multi-value parameter comparison method and carries on the functional test on IC,making use of the mathematics operation and controling function of a slice machine.In the meantime,it completes various direct current parameter tests and through the 8279 keyboards control realizes the automatic cutting of quantity distance in the diagraph and the parameter manifestation of each tested item.

  • 【文献出处】 闽西职业技术学院学报 ,Journal of Minxi Vocational and Technical College , 编辑部邮箱 ,2007年02期
  • 【分类号】TN431.2
  • 【被引频次】2
  • 【下载频次】182
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