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Z-扫描技术测量(Na0.5Bi0.5)TiO3薄膜非线性折射率
The Measurement of Optical Nonlinear Refraction Index of （Na0.5Bi0.5）TiO3 Thin Films Using a Z-scan Technique
【摘要】 描述了一种重要的测量多种物质的光学非线性折射率的单光束Z-扫描测试技术,被测样品放置于汇聚高斯光束的光轴(Z轴)上,样品在焦点附近沿Z轴移动,在远场处放置带有小孔的屏,通过测量样品的透过率与样品位置的关系,即可得到材料的非线性折射率.利用此技术,测量了(Na0.5Bi0.5)TiO3薄膜样品的非线性折射率.
【Abstract】 The paper described a sensitive single beam Z-scan technique for measurement of the optical nonlinear refractive index for a wide variety of materials.By means of the technique,the transmittance of（Na0.5Bi0.5）TiO3 thin films was measured through a finite aperture in the far field as the sample was moved along the propagation path（Z） of a focused Gaussian beam.The nonlinear lefraction index n2 of the sample was achieved.
【关键词】 Z-扫描技术；
非线性折射率；
(Na0.5Bi0.5)TiO3薄膜；
【Key words】 Z-scan technique； nonlinear refractive index； (Na0.5Bi0.5)TiO3 thin films；
【Key words】 Z-scan technique； nonlinear refractive index； (Na0.5Bi0.5)TiO3 thin films；
【基金】 河南省高校创新人才培养工程资助课题
- 【文献出处】 河南大学学报(自然科学版) ,Journal of Henan University(Natural Science) , 编辑部邮箱 ,2007年01期
- 【分类号】TN304
- 【被引频次】2
- 【下载频次】170