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往复式薄膜X射线测厚仪的研制

Development of reciprocating X-ray thickness gauge for plastic film

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【作者】 靳其兵； 陈拉；

【Author】 JIN Qi-bing,CHEN La(Research Institute of Automaion,Beijing University of Chemical Technology,Beijing,100029,China)

【机构】 北京化工大学自动化研究所； 北京化工大学自动化研究所 北京100029； 北京100029；

【摘要】 介绍了用于薄膜测厚的全自动往复式X射线测厚仪的研制,详述了该测厚仪的硬件组成和测厚的工作原理。该装置已成功运行在双向拉伸聚丙烯(BOPP)薄膜生产线上。

【Abstract】 X-ray thickness gauge developed for plastic film is described including its working principle and hardware system.The equipment has been used successfully on BOPP.

【关键词】 测厚仪； X射线； 薄膜；
【Key words】 thickness gauge； X-ray； plastic film；
  • 【文献出处】 工业仪表与自动化装置 ,Industrial Instrumentation & Automation , 编辑部邮箱 ,2007年01期
  • 【分类号】TH821.1
  • 【被引频次】6
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