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导致MLCC失效的常见微观机理

Microcosmic mechanism of causing failure of MLCC

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【Author】 LI Shi-lan,BAO Sheng-xiang,PENG Jing,MA Li-li(State Key Laboratory of Electronic Thin Films and Integrated Devices,University of Electronic Science and Technology,Chengdu 610054,China)

【机构】电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室；电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室四川成都610054；四川成都610054；

【摘要】多层陶瓷电容器(MLCC)在实际使用过程中,电参数会发生不同程度的偏离,降低了可靠性,直到MLCC失效。其失效原因可分为外部因素和内在因素,分析讨论了影响MLCC可靠性的内在因素——MLCC内部分层、导电粒子、金属离子迁移和介电老化等常见微观失效机理,并提出了主要应对措施。更多还原

【Abstract】 In practical application of MLCC,its electric parameter will change and reliability will degrade until it fails.Failed reasons of MLCC can be divided into two kinds: internal and external.The former are inner layer,migration of conduct particle and metal ions,dielectric ageing and so on.And main overcoming ways are discussed.更多还原

【关键词】电子技术； MLCC；失效分析；内在因素；微观机理；
【Key words】 electron technology； MLCC； failure analysis； internal factors； microcosmic mechanism；

【基金】国防科工委共性项目(G030103010404GK0002)

【文献出处】电子元件与材料 ,Electronic Components and Materials , 编辑部邮箱 ,2007年05期

【分类号】TM534.1
【被引频次】26
【下载频次】1124

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