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Cd掺杂BZCN薄膜的制备及其介电性能

Preparation of Cd-doped BZCN thin film and its dielectric properties

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【作者】 张凯蒋书文程鹏张鹰齐增亮

【Author】 ZHANG Kai,JIANG Shu-wen,CHENG Peng,ZHANG Ying,QI Zhen-liang(State Key Laboratory of Electronic Thin Films and Integrated Devices,University of Electronics Science and Technology,Chengdu 610054,China)

【机构】 电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室 四川成都610054四川成都610054

【摘要】 用射频磁控溅射法,在Pt/Si基片上制备了立方烧绿石结构的Cd掺杂Bi1.5Zn0.7Cd0.3Nb1.5O7(BZCN)薄膜。研究了衬底温度对薄膜结构、表面形貌以及介电性能的影响。结果表明,沉积温度为600℃,退火温度为700℃制备的薄膜,在测试频率为100 kHz,测试电场强度为1.33×106 V/cm的条件下,介电可调率达到11.8%,tanδ小于0.004 2。

【Abstract】 The Bi1.5Zn0.7Cd0.3Nb1.5O7(BZCN) thin films of cubic pyrochlore phase were prepared on Pt/Si substrate using RF magnetron sputtering method.Investigated were the effects of substrate temperature on the structures and surface morphology,dielectric properties of films.The BZCN thin films sputtered with a deposited temperature of 600 ℃ and annealed temperature at 700 ℃ showed a dielectric tunability of 11.8 %,tan δ lower than 0.0042 at E of 1.33×106 V/cm and measurement frequency of 100 kHz.

【基金】 教育部博士点基金项目(20060614009)
  • 【文献出处】 电子元件与材料 ,Electronic Components and Materials , 编辑部邮箱 ,2007年05期
  • 【分类号】TB383.2
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