节点文献

LDMOS开关在不同频率下的热安全工作

Thermal Safety of Switching Operation of LDMOS Under Different Frequencies

  • 推荐 CAJ下载
  • PDF下载
  • 不支持迅雷等下载工具,请取消加速工具后下载。

【作者】 李梅芝陈星弼

【Author】 Li Meizhi and Chen Xingbi(State Key Laboratory of Electronic Thin Films and Integrated Devices,University of Electronic Science and Technology of China,Chengdu 610054,China)

【机构】 电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室 成都610054成都610054

【摘要】 研究了LDMOS器件内部的最高温度与开关频率之间的关系.结果表明:在较高频率工作时,器件内部的最高温度与器件的热容、功耗、占空比和连续工作时间有关,而与器件的热阻和信号周期无关,器件会一直处于升温状态;在较低频率工作时,器件内部的最高温度还与器件的热阻和周期有关.所得结果可作为功率器件在各种频率下工作时热安全工作的参考.

【Abstract】 The relation between the maximum temperature and the switching condition of an LDMOST under different frequencies is studied.The results show that the maximum temperature in the device depends on the thermal capacitance,the power dissipation,the duty cycle,and the duration of continuous operation under a high switching frequency.Under a low switching frequency,the maximum temperature depends not only on those four parameters,but also on the thermal resistance and the period of the cycle.The results given here can be used as a reference for designing the thermal safe operation conditions of power devices.

【基金】 国家自然科学基金资助项目(批准号:60476036)~~
  • 【文献出处】 半导体学报 ,Chinese Journal of Semiconductors , 编辑部邮箱 ,2007年06期
  • 【分类号】TN386
  • 【被引频次】2
  • 【下载频次】175
节点文献中: 

本文链接的文献网络图示:

本文的引文网络