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等离子体隐身研究的关键性问题与研究技术路线的选择

Key Problems and the Technical Routes of the Plasma Stealth Study

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【作者】 孙健白希尧依成武储金宇

【Author】 Sun Jian, Bai Xiyao Department of Physics, Dalian Maritime University, Dalian 116026 Yi Chengwu, Chu Jinyu Department of Biology and Environment, Jiangsu University, Zhenjiang 212013

【机构】 大连海事大学物理系大连海事大学物理系江苏大学生物与环境工程学院

【摘要】 本文分析了目前等离子体隐身研究存在的几个问题:(1)等离子体寿命短的问题———有的学者把放电通道中气体电离复合的ns级时间误认为源外的等离子体寿命,这是错误的,源外离子复合机率远小于10-6,几乎不存在寿命问题;(2)等离子体浓度问题———由于气体电离度不超过10-4,通常低气压射频辉光放电的等离子体浓度在1012/cm3左右,因此,有些学者提出的射频辉光放电产生的等离子体浓度可达到1019/cm3的观点是错误的;(3)电子束法隐身问题———由于电子束装置存在的电磁波会污染环境和干扰控制系统,再加上体积大、能耗高而无法实现飞行器的隐身;(4)研究隐身的环境问题———在玻璃真空罩环境中研究的结果无法用于飞行器上。为解决上述问题应走自主创新的研究路线,研制微型低能耗高电离度的非平衡等离子体源,以便尽快解决我国军事装备的隐身问题。

【基金】 国家自然科学基金(批准号60471036,50578020)
  • 【文献出处】 中国基础科学 ,China Basic Science , 编辑部邮箱 ,2006年03期
  • 【分类号】O53
  • 【被引频次】2
  • 【下载频次】369
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