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线阵CCD一维尺寸测量的实验

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【摘要】 CCD(Charge Coupled Devices)是20世纪70年代发展起来的新型半导体集成光电器件,能对光照做出反应并把反应的强度转换成相应的数值。它的应用范围很广,其中尺寸测量是最常见最简单的应用,而且是非常有效的非接触检测技术,被广泛地应用于各种加工件的在线检测和高精度、高速度的检测技术领域。本文旨在帮助对CCD感兴趣的同学通过一个简单的应用实例尽快地了解和掌握CCD的基本工作原理和一维尺寸测量应用中的关键知识点。

【关键词】 CCD尺寸测量基本原理
  • 【文献出处】 实验室科学 ,Laboratory Science , 编辑部邮箱 ,2006年06期
  • 【分类号】TP274.4
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