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尺寸可控的纳米硅的生长模型和实验验证

The growth model and experimental validation of size_controlled nanocrystalline silicon

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【作者】 刘艳松陈铠乔峰黄信凡韩培高钱波马忠元李伟徐骏陈坤基

【Author】 Liu Yan_Song Chen Kai Qiao Feng Huang Xin_Fan~ Han Pei_Gao Qian Bo Ma Zhong_Yuan Li Wei Xu Jun Chen Kun_Ji(National Laboratory of Solid State Mircrostructures and Department of Physics, Nanjing University, Nanjing 210093, China)

【机构】 南京大学物理系固体微结构物理国家重点实验室南京大学物理系固体微结构物理国家重点实验室 南京210093南京210093

【摘要】 基于经典热力学理论,对a-SiNx/a-Si:H/a-SiNx三明治结构或a-Si:H/a-SiNx多层膜结构中纳米硅成核,以及从球形到鼓形的生长过程进行了研究.建立了限制性晶化理论模型:在纳米硅生长过程中,由于界面能增大将导致生长停止,给出限制性晶化条件——a-Si:H子层厚度小于34nm.在激光晶化和常规热退火两种方法形成的a-SiNx/nc-Si/a-SiNx三明治结构和nc-Si/a-SiNx多层膜结构中验证了该理论模型.

【Abstract】 According to the processes of nucleation and growth of nanocrystalline silicon (nc_Si) with shape changing from sphere_like to disc_like in the a_SiN_x/a_Si:H/a_SiN_x sandwich structure or a_Si :H/a_SiN_x multilayer structure, we have proposed the theoretical model of constrained crystallinzation based on the classical thermodynamics, in which the increase of the interfacial energy between nc_Si and a_SiN_x causes the growth of nc_Si to halt, and concludes the critical thickness of a_Si sublayer (34 nm) for constrained crystallization, The model of constrained growth has been validated in a_SiN_x/nc_Si/a_SiN_x sandwich and nc_Si/a_SiN_x multilayer structures formed by laser annealing and thermal annealing.

【基金】 国家自然科学基金(批准号:60471021,90301009,60508009);国家重点基础研究发展规划(批准号:2001CB610503);中国科学院微系统和信息技术研究所信息功能材料国家重点实验室开放课题资助项目.~~
  • 【文献出处】 物理学报 ,Acta Physica Sinica , 编辑部邮箱 ,2006年10期
  • 【分类号】O781
  • 【被引频次】12
  • 【下载频次】141
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