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用新型红外测温仪观察由钨丝电子发射引起的损耗

Using new infrared thermoscope to observe the loss caused by electron emission of tungsten filament

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【Author】 GUO Xi-ming~1,ZHANG Min~2,LU Wen-qiang~3,CAO Bo-lin~2(1.College of Physics & Electronic Information Science,Tianjin Normal University,Tianjin 300074,China;2.Institute of Science,Tianjin University of Technology,Tianjin 300191, China;3.Institute of Physics,Nankai University,Tianjin 300071,China)

【机构】天津师范大学物理与电子信息学院；天津理工大学理学院；南开大学物理学院；天津理工大学理学院天津300074；天津300191；天津300071；

【摘要】在金属电子逸出功测定实验中,未考虑由钨丝电子发射引起的损耗,存在约-1.86%的系统误差.用新型红外测温仪可以观察到因上述损耗而出现的钨丝温度的变化,为修正该系统误差提供直接的观察依据.更多还原

【Abstract】 The experiment of measuring metal electron work function usually neglects the loss caused by the electron emission of tungsten filament,so the system error will be-1.86%.We can observe the change of tungsten filament temperature by using the new infrared thermocope,it offers direct observational basis for revising the system error.更多还原

【关键词】红外测温仪；逸出功；发射损耗；
【Key words】 infrared thermoscope； work function； emission loss；

【文献出处】物理实验 ,Physics Experimentation , 编辑部邮箱 ,2006年12期

【分类号】O462.3
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