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影响磁性薄膜微波磁谱测量精度的因素

Factors Influencing Precision of Measurement for Determining the Spectral Complex Permeability of Thin Ferromagnetic Films

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【作者】 江建军彭显旭杜刚张秀成何华辉

【Author】 JIANG Jian-jun,PENG Xian-xu,DU Gang,ZHANG Xiu-cheng,HE Hua-hui (Dept.of Electronic Sci.&Tech.,Huazhong Univ.of Sci.&Tech.,Wuhan 430074,China)

【机构】 华中科技大学电子科学与技术系华中科技大学电子科学与技术系 武汉430074武汉430074

【摘要】 针对铁磁薄膜复磁导率在微波频段的测量,本文采用了一种利用短路微带线进行扫频的新方法。在介绍其测量过程的基础上,重点分析了待测薄膜电阻率、修正因子K及系统校准等因素对测量的影响,并对应提出了减小误差的解决方法,从而提高了测量的精度。

【Abstract】 In the present paper,a new method for determining the complex permeability of thin magnetic films is adopted.The measurement technique was carried out by a one-port permeameter,which is based on a short-circuited microstrip and frequency sweep.After introducing the measurement process,we chiefly show that the frequency-dependent permeability is affected by the electrical resistivity of the ferromagnetic layer,correct factor K as well as system calibration procedure and so on,and present the methods of reducing errors that have resulted from these factors,to help to improve the precision of the measurement.

【基金】 国家自然科学基金(50371029);新世纪优秀人才支持计划
  • 【文献出处】 微波学报 ,Journal of Microwaves , 编辑部邮箱 ,2006年05期
  • 【分类号】TM936
  • 【被引频次】8
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