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反熔丝FPGA延时电路γ瞬时辐射效应

γ transient radiation effects of a FPGA delay circuit

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【作者】 杜川华詹峻岭徐曦

【Author】 DU Chuan-hua,ZHAN Jun-ling,XU xi(Institute of Electronic Engineering,CAEP,P.O.Box 919-522,Mianyang 621900,China)

【机构】 中国工程物理研究院电子工程研究所中国工程物理研究院电子工程研究所 四川绵阳621900四川绵阳621900

【摘要】 简要叙述了反熔丝FPGA的基本结构,介绍了一种FPGA延时电路的工作原理以及利用该电路在“强光一号”脉冲加速器上进行γ瞬时辐照试验的方法,给出了试验测量结果。分析表明:高剂量率γ瞬时电离辐射会破坏FPGA延时电路一个信号周期的工作状态,因此存在功能失效的可能性。但就整体而论,反熔丝FPGA抗瞬时辐射的性能要优于其它许多大规模CMOS集成电路。

【Abstract】 This paper depicts in brief basic information of ACTEL’s antifuse-based FPGA(field programmable gate array)and the working theory of FPGA delay circuits.The method of measurement of FPGA delay circuits on Qiangguang Ⅰgenerator are discussed.And some of the results are presented. The analysis shows thatγtransient Radiation will destroy a signal period state,so,to some extent,there is a possibility of disable FPGA function.However, as a whole,the performance of FPGA is better than many of other CMOS LSI(Large Scale Integrated circuit) at high γdose rate.

【基金】 国防科技基础研究基金资助课题
  • 【文献出处】 强激光与粒子束 ,High Power Laser and Particle Beams , 编辑部邮箱 ,2006年02期
  • 【分类号】TL82
  • 【被引频次】17
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