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数字电路的高层测试技术及其发展

High-Level Testing of Digital VLSI Circuits and Its Developing Trend

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【作者】 成本茂王红邢建辉杨士元

【Author】 CHENG Ben-mao,WANG Hong,XING Jian-hui,YANG Shi-yuan(Dept.of Automation,Tsinghua University,Beijing 100084,P.R.China)

【机构】 清华大学自动化系清华大学自动化系 北京100084北京100084

【摘要】 简要介绍了数字VLSI电路高层测试的概念,主要的高层测试方法,高层测试中所采用的故障模型及其与门级stuck-at故障的对应关系;并展望了高层测试技术的发展趋势。

【Abstract】 High-level testing of digital VLSI circuits is briefly reviewed.The most important high-level test approaches are described.High-level fault models and its mapping with the stuck-at faults are presented.And finally,the developing trend of high-level testing is discussed.

【基金】 国家自然科学基金资助项目(90207016)
  • 【分类号】TN79
  • 【被引频次】4
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