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高压VDMOSFET中的快恢复体二极管的设计新方法

A New Design Methodology for Fast Reverse Recovery Body Diode in High-Voltage VDMOSFET

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【作者】 石广源张俊松张雯闫冬梅

【Author】 SHI Guang-yuan,ZHANG Jun-song,ZHANG Wen,YAN Dong-mei(The Department of Physics,Law School,Information Science and Technology College,Liaoning University,Shenyang 110036,China)

【机构】 辽宁大学物理系辽宁大学法学院辽宁大学信息学院 辽宁沈阳110036辽宁沈阳110036

【摘要】 提出了一种提高高压垂直双扩散MOS场效应晶体管(VDMOSFET)的体二级管恢复速度的新方法.在这一方法中,肖特基接触集成于VDMOSFET中的每一单胞中.据此生产的样品的实验结果表明,对于500V/2A的VDMOSFET,反向恢复电荷减小了50%,体二极管的恢复因数增大了60%.

【Abstract】 A new approach to improve the high-voltage vertical double-diffused MOSFET(VDMOSFET) body-diode recovery speed is proposed.In this approach,a Schottky contact is integrated into every cell of the VDMOSFET.Experimental results from the fabricated samples show a 50% decrease in the reverse recovery charge and a 60% increase in the softness factor of the body diode in 500V/2A VDMOSFETs.

  • 【文献出处】 辽宁大学学报(自然科学版) ,Journal of Liaoning University(Natural Sciences Edition) , 编辑部邮箱 ,2006年01期
  • 【分类号】TN386
  • 【被引频次】1
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