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MWECR-CVD法高速沉积氢化非晶硅薄膜

High rate deposition of hydrogenated amorphous silicon thin film with MWECR-CVD system

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【作者】 刘国汉丁毅何斌朱秀红陈光华贺德衍

【Author】 LIU Guo-han~(1,3) DING Yi~1 HE Bin~2 ZHU Xiu-hong~2 CHEN Guang-hua~(1,2) HE De-yan~1 (1.School of Physical Science and Technology,Lanzhou University,Lanzhou 730000,China;2.College of Materials Science and Engineering,Beijing University of Technology,Beijing 100022,China;3.Research Institute of Sensor Technology,Gansu Academy of Sciences,Lanzhou 730000,China)

【机构】 兰州大学物理科学与技术学院北京工业大学材料学院兰州大学物理科学与技术学院 甘肃兰州 730000 甘肃省科学院传感技术研究所甘肃兰州 730000北京 100022甘肃兰州 730000 北京工业大学材料学院

【摘要】 介绍了一种新型的 MWECR-CVD 装置.该装置设计采用了一种由单个电磁线圈和永磁体单元组合的新型磁场,设计了一种新型的矩形耦合波导.应用这一装置使 a-Si∶H 薄膜的沉积速率达到了 2nm/s 以上.为了降低薄膜的光致衰退效应,提出了热丝辅助的 MWECR-CVD,这一改进可以大大降低薄膜的氢含量,改善薄膜的光照稳定性.

【Abstract】 In this paper is reported a new MWECR-CVD system,in which a novel magnetic field combina- tion of a permanent magnet unit and a single electromagnetic coil was used,and a new rectangle coupling wave-guide was also designed.By using this new MWECR-CVD system,the deposition rate of a-Si:H films was up to 2 nm/s.Meanwhile,in order to reduce the S-W effect of the films,a hot-wire-assisted microwave electron-cyclotron-resonance chemical vapor deposition system(HW-MWECR-CVD)was developed and, with it,hydrogen concentration was decreased dramatically and the film stability was improved remarkably.

【基金】 国家重点基础研究发展规划资助项目(G000028201)。
  • 【文献出处】 兰州大学学报 ,Journal of Lanzhou University , 编辑部邮箱 ,2006年02期
  • 【分类号】O484.1
  • 【被引频次】5
  • 【下载频次】208
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