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类蜂巢结构快速样机平台的可测试性设计  
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【英文篇名】 Design for Testability in Honeycomb-like Rapid Embedded System Platform
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【作者】 陈伟男; 周博; 彭澄廉; 吴荣泉;
【英文作者】 CHEN Weinan1; ZOU Bo1; PENG Chenglian1; WU Rongquan2(1.Department of Computer and Information Technology; Fudan University; Shanghai 200433; 2.East-China Institute of Computer Technology; Shanghai 200233);
【作者单位】 复旦大学计算机与信息技术系; 华东计算技术研究所 上海;
【文献出处】 计算机工程 , Computer Engineering, 编辑部邮箱 2006年 24期  
期刊荣誉:中文核心期刊要目总览  ASPT来源刊  CJFD收录刊
【中文关键词】 快速样机原型; 可测试性设计; JTAG;
【英文关键词】 Rapid system prototype; Design for testability; JTAG;
【摘要】 类蜂巢结构快速样机平台(HLRESP)是一个基于现场可编程门阵列(FPGA)的通用样机平台,采用类似蜂窝状的系统结构。根据该样机平台特点,采用边界扫描技术进行板级和系统级的可测试性设计,扫描链路可以灵活配置,不仅能实现边界扫描测试,还能实现对可编程器件的在线编程,方便了样机平台的测试和调试工作,缩短了系统开发周期。
【英文摘要】 The honeycomb-like rapid embedded system platform(HLRESP) is a kind of general-purpose platform based on field programming gate arrays(FPGA).It has a modularized and honeycomb-like structure.According to the feature of HLRESP,design for testability methods based on boundary scan technology are applied to the board level and system level design.The structure of boundary scan chain can be configured flexibly.Boundary scan test as well as in-system-programming(ISP) for programmable logic devices can be impleme...
【更新日期】 2007-01-10
【分类号】 TN791
【正文快照】 1概述近年来微电子工艺的进步直接导致了SoC(system-on-chip)设计技术的蓬勃发展,这些新技术和新工艺为设计功能更强大的嵌入式系统提供了实现基础,但是,复杂嵌入式系统设计也给设计人员带来了巨大挑战。相当多的研究显示,即使有严格的控制,在复杂产品的不同设计和实现阶段,仍?

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