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基于原子力显微镜的CD/DVD表面形貌检测

Detection of CD/DVD Surface by Atomic Force Microscope

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【Author】 SUN Zhi~1,LUO Sheng-yun~2,FAN Yong-fa~1(1.Laboratory for Photoelectric Technology and Application,Guizhou Key Laboratory,Guiyang 550025,China;2.Photoelectron Information Fuctional Materials Laboratory,Guizhou University,Guiyang 550025,China)

【机构】贵州大学光电子技术及应用贵州省重点实验室；贵州大学光电子信息功能材料实验室；贵州大学光电子技术及应用贵州省重点实验室贵州贵阳550025；贵州贵阳550025；

【摘要】利用原子力显微镜对光盘(CD)和数字通用光盘(DVD)表面结构进行三维检测,使用CSPM-2000 Imager软件计算和分析扫描得到的图像.结果显示,高存储容量的DVD光盘将取代CD光盘成为外存的主流.更多还原

【Abstract】 By atomic force microscope,the surface pattern of compact disc(CD) and digital versatile disc(DVD) are scanned and the images are analyzed with CSPM-2000 imager software.The result shows that DVD will replace CD to dominate in storage medium.更多还原

【关键词】原子力显微镜；光盘；数字通用光盘；道间距；
【Key words】 atomic force microscope； compact disc； digital versatile disc； line distance；

【基金】国家自然科学基金资助项目(50375031)

【文献出处】吉首大学学报(自然科学版) ,Journal of Jishou University(Natural Sciences Edition) , 编辑部邮箱 ,2006年03期

【分类号】TP274
【被引频次】3
【下载频次】147

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