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激光束诱导电流谱技术表征红外器件几何结构

Characterizing the HgCdTe Photovoltaic Devices by Laser Beam Induced Current Technique

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【作者】 陈贵宾全知觉陆卫

【Author】 CHEN Gui-Bin, QUAN Zhi-Jue, LU Wei (Physics Department and Jiangsu Key Laboratory for Chemistry of Low Dimensional Material, Huaiyin Teachers college, Jiangsu Huaiyin 223001, China; National Laboratory for Infrared Physics, Shanghai Institute of Technical Physics, Chinese Academy of Sciences, Shanghai 200083, China;

【机构】 淮阴师范学院物理系、低维材料化学省重点建设实验室中国科学院上海技术物理研究所红外物理国家重点实验室 上海 200083中国科学院上海技术物理研究所红外物理国家重点实验室江苏 淮阴 223001上海 200083

【摘要】 硼离子注入p型HgcdTe薄膜材料制备的光伏型红外探测器光敏元实际面积对器件结构的优化设计、器件性能研究具有重要意义.通过高分辨率、非直接接触的激光束诱导电流谱表征手段获取 HgCdTe光伏型器件单元的几何结构信息,结果表明离子注入形成的n型区域的面积明显大于离子实际注入的区域面积。

【Abstract】 A measurement system of laser beam induced current (LBIC) with high spatial-resolution and without requiring any direct electrical contact is presented. It has been widely applied to study the electrical non-uniformities at the surface of the semiconductor materials and devices. The line scan and mapping profiles of a series of HgCdTe p-n junctions have been demonstrated. The region of p-to-n type conversion by boron ions implantation is larger than the real implanted area.

【基金】 国家自然科学基金(批准号:10234040);江苏省高校自然科学研究项目(05KJB140038)资助课题
  • 【文献出处】 红外技术 ,Infrared Technology , 编辑部邮箱 ,2006年01期
  • 【分类号】TN214
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