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TGC放大器成形甄别器及测试系统

The TGC amplifier shaper discriminator boards and their inspection system

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【作者】 李锋金革杨涛虞孝麒

【Author】 LI Feng JIN Ge YANG Tao YU Xiaoqi (Department of Modem Physics, University of Science and Technology of China, Hefei 230026)

【机构】 中国科学技术大学近代物理系中国科学技术大学近代物理系 合肥 230026合肥 230026

【摘要】 本文分析了ASD板在ATLAS探测器最外层的μ子探测器中的工作环境以及作用,并按照其对ASD板质量的要求设计了一套对ASD板质量的专用批量测试系统。本文详细叙述了测试系统的构成、测试原理以及对ASD板的测试结果。

【Abstract】 In this paper, the working environment and the functions of Amplifier-Shaper-Discriminator (ASD) boards for TGC in ATLAS Muon Spectrometer is introduced and a special inspection system for ASD boards is described based on the requirement in the ATLAS experiment. The testing principle and inspection results of a large quantity of ASD boards inspected by the system are also described in detail.

【关键词】 TGCASD测试系统设计
【Key words】 TGCASDInspection systemDesign
【基金】 国家自然科学基金国际合作重大项目(0051140291)资助
  • 【分类号】TN722
  • 【被引频次】2
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