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基于PCI总线的并行多域值二值化用于宽幅面PS版的质量检测

The parallel two-value digitalization used for quality inspection of PS plate with broad surface based on PCI bus

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【Author】 WANG Qing-you,WANG Fei,ZHU Xiao-hua,GAO Hua,QI Long(College of Precision Instruments and Opto-electronics Engineering,Tianjin University,Tianjin 300072,China)

【机构】天津大学精密仪器与光电子工程学院光电信息技术科学教育部重点实验室；天津大学精密仪器与光电子工程学院光电信息技术科学教育部重点实验室天津300072；天津300072；

【摘要】论述了PS版质量检测系统采集的基本原理。该系统采用了线阵CCD机械拼接扫描、多域值二值化高速数据存储、PCI高速图像采集卡、计算机控制等技术。在Visual C++6.0的环境下,用Windriver开发了PCI总线接口卡的软件驱动程序。利用示波器及其在PC机上对PS版采集系统所采集的数据进行了验证,取得了较为满意的结果。更多还原

【Abstract】 The principle of the system of the PS plate is introduced.CCD splicing technology,data storage,PCI-interface high-speed image collecting technology and controlling technology are used in this system.The driver program is developed using Windriver in the environment of Visual C++6.0.The acquisition data of the PS printing plate is validated with oscillogragh and computer,and the result is satisfactory.更多还原

【关键词】线阵CCD；机械拼接；数字二值化； PCI总线接口；
【Key words】 linear CCD； mechanical splice； two-value digitalization； PCI interface；

【文献出处】光学技术 ,Optical Technique , 编辑部邮箱 ,2006年02期

【分类号】TP274.4
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