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痕量锗的HG-ICP测定及介质对其测定的影响的研究

Determination of Trace Germanium by HG-ICP and Study on the Medium Influence

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【作者】 金未赵承易马辉

【Author】 JIN Wei, ZHAO Cheng-yi, MA Hui Analytical and Testing Center, Beijing Normal University, Beijing 100875, China

【机构】 北京师范大学测试中心北京师范大学测试中心 北京100875北京100875

【摘要】 北京师范大学测试中心,北京100875摘要采用氢化物发生-电感耦合等离子体原子发射光谱法测定痕量锗的方法,系统地考察了不同酸介质、NaBH4浓度及共存元素的影响,确定了最佳测定条件。方法的检出限为0.2ng.mL-1,精密度为0.9%。用环境标准物质进行对照,其测定值均在给定的标准范围之内。并且针对反应介质对锗测定的影响,进行了详尽的研究。

【Abstract】 A method to determine the content of trace germanium by hydride generation inductively coupled plasma atomic emission spectrometry was established. The influences of different acidic medium, concentration of NaBH4 and other concomitant elements are examined systemically. The optimal analytical conditions were discussed and examined. The detection limit is 0.2 ng·mL -1 and the precision is 0.9%. The value of germanium content detected in environmental reference material agrees with the certified value. The medium influence on determining trace germanium was studied in detail.

【基金】 国家自然科学基金(10174008)资助
  • 【文献出处】 光谱学与光谱分析 ,Spectroscopy and Spectral Analysis , 编辑部邮箱 ,2006年09期
  • 【分类号】O657.3;O614.431
  • 【被引频次】5
  • 【下载频次】87
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