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PTCDA/ITO表面和界面的X射线光电子能谱分析

Surface and Interface Analysis of PTCDA/ITO Using X-Ray Photoelectron Spectroscopy(XPS)

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【作者】 欧谷平宋珍桂文明张福甲

【Author】 OU Gu-ping~(1,2),SONG Zhen~3,GUI Wen-ming~1,ZHANG Fu-jia~(1*) 1.School of Physical Science and Technology,Lanzhou University,Lanzhou 730000,China 2.School of Physics,Hunan University of Science and Technology,Xiangtan 411201,China 3.School of Basic Courses,Beijing Institute of Machinery,Beijing 100085,China

【机构】 兰州大学物理科学与技术学院北京机械工业学院基础部兰州大学物理科学与技术学院 甘肃兰州730000湖南科技大学物理学院湖南湘潭411201北京100085甘肃兰州730000

【摘要】 利用X射线光电子能谱对PTCDA/p-Si有机/无机光电探测器中PTCDA/ITO表面和界面进行了测试分析。结果表明,环上的C原子的结合能为284.6 eV,酸酐中的C原子的结合能为288.7 eV,并存在来源于ITO膜中的氧对C原子的氧化现象,界面处C(1s)谱中较高结合能峰消失,且峰值向低结合能发生化学位移;C O键中O原子的结合能为531.5 eV,C—O—C键中的O原子的结合能为533.4 eV。

【Abstract】 X-ray photoelectron spectroscopy(XPS) of surface and interface of PTCDA/ITO in PTCDA/p-Si organic-on-inorganic photoelectric detector was investigated. From C1s fine spectrum we found that the binding energy of C atoms in perylene rings was 284.6 eV;and the binding energy of C atoms in acid radical was 288.7 eV;moreover,some C atoms were oxidized by O(atoms) from ITO.The binding energy of O atoms in CO bonds and C—O—C bonds was 531.5 and 533.4 eV,respectively.At the interface,the peak of high binding energy in C1s spectrum disappeared,and the main peak shifted toward lower binding energy.

【基金】 国家自然科学基金(60276026);甘肃省自然科学基金(ZS031-A25-012-G)资助项目
  • 【文献出处】 光谱学与光谱分析 ,Spectroscopy and Spectral Analysis , 编辑部邮箱 ,2006年04期
  • 【分类号】O433.4
  • 【被引频次】7
  • 【下载频次】319
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