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相位体制数模转换器动态参数的表征与测试

Characterization and Testing of Phase DAC Dynamic Performance

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【作者】 张有涛夏冠群李拂晓高建峰

【Author】 ZHANG Youtao~(1,2) XIA Guanqun~1 LI Fuxiao~2 GAO Jianfeng~2 (()~1Shanghai Institute of Microsystem and Information Technology,Chinese Academy of Sciences,Shanghai,200050,CHN) (()~2Nanjing Electronic Devices Institute,Nanjing,210016,CHN)

【机构】 中国科学院上海微系统与信息技术研究所南京电子器件研究所南京电子器件研究所 上海200050南京电子器件研究所南京210016上海200050南京210016

【摘要】 详细分析并讨论了相位体制数模转换器(DAC)动态参数的表征方法,提出用无杂散动态范围(SFDR)、近区谐波失真(TH D 6)、有效工作带宽(EW B)、输出信号功率及正交输出信号幅度一致性来全面描述相位DAC的频域性能。采用上述方法对利用南京电子器件研究所标准76 mm G aA sM ESFET全离子注入工艺流片得到的3b it相位DAC进行了频域测试。结果显示其EW B大于1.5 GH z,转换速率大于12 G bps,全频带内输出信号的正交精度低于4%,幅度一致性低于26%(大多数测试点低于10%)。在500 MH z输入信号下,其SFDR、TH D 6分别为33.8 dB c-、33.7 dB c。该相位DAC的动态参数良好,尤其正交性能优异。

【Abstract】 Detailedly analyzed is the characterization of phase DAC’s dynamic performance which can be fully defined using such parameters as spurious-free dynamic range(SFDR),near range harmonic distortion(THD6),effective work bandwidth(EWB),output signal power and coherency of two orthogonal output signal.This method is used to describe the dynamic performance of a GaAs 3 bit phase DAC fabricated by Nanjing Electronic Devices Institute’s standard 76 mm full ion-implanted GaAs MESFET process.This 3 bit phase DAC exhibits more than(1.5) GHz EWB,higher than 12 Gbps conversion rate,less than 4% orthogonal accuracy of output signals with full bandwidth and less than 26% amplitude coherency(less than 10% at most test points).With 500 MHz input signals,its SFDR and THD6 are 33.8 dBc,-33.7 dBc,respectively.The above results show that its frequency performance is good,and its phase accuracy is excellent.

  • 【文献出处】 固体电子学研究与进展 ,Research & Progress of SSE Solid State Electronics , 编辑部邮箱 ,2006年02期
  • 【分类号】TN792
  • 【下载频次】73
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