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退火处理对掺锑Zn-Sn-O薄膜的特性的影响

Affect of annealing temperature on properties of antimony-doped Zn-Sn-O films

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【作者】 黄树来姜永超盖凌云徐进栋王雨生马瑾

【Author】 HUANG Shu-lai~1,JIANG Yong-chao~1,GAI Ling-yun~2,XU Jin-dong~1,WANG Yu-sheng~1,MA Jin~3 (1.Physics Department,Laiyang Agricultural College,Laiyang 265200,China;2.Center of Education Technology,Laiyang Agricultural College,Laiyang 265200,China;3.School of Physics and Microelectronics,Shandong University,Ji’nan 250100,China)

【机构】 莱阳农学院理学院莱阳农学院教育技术中心山东大学物理与微电子学院 山东莱阳265200山东莱阳265200山东济南250100

【摘要】 首次在低温下采用磁控射频溅射技术在玻璃衬底上制备出具有多晶结构的掺锑锌-锡-氧(Zn-Sn-O∶Sb)透明导电膜。研究了在通氧气氛制备薄膜的特性以及退火处理对制备薄膜结构和光电性能的影响。经真空退火后,氩氧混合气体溅射制备的Zn-Sn-O∶Sb透明导电膜的最小电阻率为4×10-2Ω.cm,相应载流子浓度和霍尔迁移率分别为2.1×1019cm-3,8cm2.V-1.s-1。薄膜的可见光平均透过率达到了92.4%。薄膜具有较高的热稳定性和化学稳定性,对玻璃衬底有良好的附着性。

【Abstract】 Polycrystalline Sn-Zn-O∶Sb films are prepared on corning 7059 glass substrates at low-temperature by r.f.magnetron sputtering.The structural,electrical and optical properties of the deposited films have been studied together with the influence of the annealing temperature.The resistivity of the antimony-doped Sn-Zn-O film is 4×10-2Ω·cm,the carrier concentration is 2.1×1019cm-3 and hall mobility 8cm2·V-1·s-1.The average transmittance in the visible region reaches 92.4%.

【基金】 国家自然科学基金资助项目(60276044);教育部科学技术研究重点资助项目(重点02165)
  • 【文献出处】 功能材料 ,Journal of Functional Materials , 编辑部邮箱 ,2006年02期
  • 【分类号】TM24
  • 【被引频次】2
  • 【下载频次】93
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