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椭偏仪数据处理及误差修正

Data Processing and Error Correcting of Ellipsometer

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【作者】 陈云锋陈炳若

【Author】 CHEN Yun-feng 1,2 CHEN Bing-ruo 1.2 (1. School of Physics and Technology, Wuhan University, Wuhan, 430072, CHN;2. State Key Laboratory of Transducer Technology, The Chinese Academy ofScience, Shanghai, 200050, CHN)

【机构】 武汉大学物理科学与技术学院中国科学院传感技术国家重点联合实验室 上海200050中国科学院传感技术国家重点联合实验室上海武汉430072

【摘要】 提出了一套对椭偏仪的测量误差进行有效修正的方案,设计了一个Windows版的椭偏仪测厚数据处理软件,并在该软件中嵌入了对测量数据的误差进行修正的方法,使椭偏仪的最终测量结果更加精确。制作了30片厚度梯度分布的标准样片(厚度20nm~1μm),用于从“软”、“硬”件两个方面对椭偏仪进行误差修正,使最终的误差小于1%。本文所提出的修正方案具有一定的普适性、实用性。

【Abstract】 An effective scheme for correcting the error of ellipsometer was worked out. And a Windows-version software for processing the data of ellipsometer was designed, in which a method of error correcting for the data measured by ellipsometer was embedded to make the final result more accurate.30 thickness-grads-distributing samples (thickness from 20 nm to 1 μm)were prepared to correct the error both by hardware and software. And the final errors are less than 1%. The scheme given in this paper is practical and can be widely used.

【基金】 上海微系统所传感技术联合国家重点实验室开放基金(SK00401)
  • 【文献出处】 光电子技术 ,Optoelectronic Technology , 编辑部邮箱 ,2006年03期
  • 【分类号】TH741
  • 【被引频次】6
  • 【下载频次】793
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