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电子元器件的可靠性筛选

The Reliable Stress Screening of Electronic Components

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【作者】 杨少华吴福根黄瑞毅

【Author】 YANG Shao-hua~1,WU Fu-gen~1,HUANG Rui-yi~2(1.Engineering and Experiment Center,Guangdong University of Technology,Guangzhou 510090,China;2.The Fifth Research Instiute(Electronics)of MII,Guangzhou 510610,China)

【机构】 广东工业大学实验中心信息产业部电子第五研究所 广东广州510090广东广州510090广东广州510630

【摘要】 论述了电子元器件在各种应力下的可能失效模式和相应的筛选方法,重点论述了环境应力筛选,以及环境应力筛选的加速因子和筛选度的计算,为电子产品选择合理的可靠性筛选应力水平提供了指导.最后以工程实例说明了可靠性应力筛选的效果.

【Abstract】 In this paper,the failure models of electronic components under a variety of stresses are introduced,as well as its corresponding reliable stress screening methods.Meanwhile,the paper mainly emphasizes on the environmental stress screening methods,accelerated factor and environmental factor,which provide proper guidance for the electronic products to choose reasonable stress level in reliable stress screening.Finally,by giving an engineering test example,the effects of the reliable stress screening are(illustrated.)

【基金】 信息产业部科研预研基金资助项目(H122003A001)
  • 【文献出处】 广东工业大学学报 ,Journal of Guangdong University of Technology , 编辑部邮箱 ,2006年01期
  • 【分类号】TN60
  • 【被引频次】21
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