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热–机械应力和湿气引起QFN器件层间开裂分析

Analysis on Thermal-mechanical Stress and Moisture Driven Delamination in the QFN Package Devices

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【作者】 罗海萍杨道国李宇君

【Author】 LUO Hai-ping1,YANG Dao-guo1,2,LI Yu-jun1(1.Department of Mechanical Engineering Guilin University of Electronic Technology,Guilin 541004,China;2.Delft University of Technology,Mekelweg 2,2628 CD Delft,The Netherlands)

【机构】 桂林电子工业学院桂林电子工业学院 广西桂林541004广西桂林541004代夫特工业大学荷兰Mekelweg22628

【摘要】 采用通用有限元软件分析和计算器件在潮湿环境下的潮湿扩散,并计算由于吸潮使器件在无铅回流的高温下产生蒸汽压力,并对层间开裂现象进行分析。结果表明,气压是层间开裂的主要原因,在气压和热机械应力的作用下,层合面上的微孔洞扩张并结合起来,导致器件最后失效。

【Abstract】 The finite element analysis on moisture diffusion in microelectronic plastic packages during moisture precondition by using a commercial FEA software was studied and modeled.Then,the vapor stress which induced under lead-free reflow temperature was calculated.And delamination phenomenon appear in package was also analyzed.The results indicate that the vapor pressure is a major driven force for interface delamination.Under vapor and thermo-mechanical stress,the micro holes in the interface start to expand and combine.Finally,it induced delamination.

【基金】 国家自然科学基金资助项目(60166001)
  • 【文献出处】 电子元件与材料 ,Electronic Components and Materials , 编辑部邮箱 ,2006年06期
  • 【分类号】TN405
  • 【被引频次】11
  • 【下载频次】238
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