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基于Nios Ⅱ的Serial EEPROM测试方法研究

Testing Serial EEPROM based on Nios Ⅱ

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【作者】 周亚丽周辰武乾文周冬雁

【Author】 Zhou Ya-li, Zhou Chen, Wu Qian-wei, Zhou Dong-yan (The 58th Research Institute of CETC, Wuxi Jiangsu 214035,China)

【机构】 中国电子科技集团公司第58研究所中国电子科技集团公司第58研究所 江苏 无锡 214035江苏 无锡 214035

【摘要】 文章介绍了Serial EEPROM的测试原理,提出了一种基于Nios Ⅱ软核CPU测试Serial EEPROM 的方法,该方法具有稳定性高、所需器件少、可编程、低成本等优点。在Serial EEPROM的大量测试中可以代替昂贵的测试系统,是一种性价比较高的替代测试方案。

【Abstract】 A test method about serial EEPROM is described. It’s advanced to test EEPROM based on Nios Ⅱ soft CPU core, The advantages, of this mothod are high reliability, less components required, programmable and low cost. It is an alternative test solution with high value/cost ratio which can be used to replace expensive test system on Serial EEPROM mass test.

【关键词】 Serial EEPROM测试Nios ⅡCPU软核编程
【Key words】 Serial EEPROMTestNios ⅡCPU Soft Core, Program
  • 【文献出处】 电子与封装 ,Electronics & Packaging , 编辑部邮箱 ,2006年05期
  • 【分类号】TP333
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