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膜纸复合储能电容器的直流局部放电信号分析方法

Study of DCPD Analyzing Method of Energy-Storage Capacitors

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【作者】 冉汉政吴广宁舒雯张血琴于成龙刘华昌

【Author】 Ran Hanzheng1 Wu Guangning1 Shu Wen1 Zhang Xueqin1 Yu Chenglong2 Liu Huachang2 (1. Southwest Jiaotong University Chengdu 610031 China 2. Academy of Physics Engineering of China Mianyang 621900 China)

【机构】 西南交通大学电气学院中国工程物理研究院电子工程研究所中国工程物理研究院电子工程研究所 成都610031成都610031绵阳621900

【摘要】 检测系统提取直流局部放电(DCPD)信号后,须进一步处理,从而准确判断缺陷状况。描述直流局部放电信号的基本参数是放电量q及放电发生时刻t,通过对膜纸复合储能电容器进行直流局部放电检测,比较了含有不同人工缺陷的电容器的基于Δt方法的二维统计分布图及指纹谱图;研究了不同寿命阶段储能电容器的q-n曲线。试验结果表明,基于Δt方法的特征谱图能用于区分电容器缺陷类型;不同电容器在老化阶段的q-n曲线变化规律并不一致,说明该曲线难以表征电容器的老化进程。最后,提出采用Δt方法来表征电容器绝缘的老化进程。

【Abstract】 PD under DC condition is analyzed to diagnose insulation statues. Basic parameters are discharge quantity q and time t when PD occurs. The fingerprints based on Δt method, produced from the PD data of various capacitors containing different kinds of defects, are compared. Test results show that the Δt method is efficient to show defects type of the capacitors. The experiment identifies that q-n curves of different model capacitors do not vary identically during their aging. At the end of this paper, Δt method is proposed to distinguish the life stages of test capacitors.

【关键词】 直流局部放电信号分析老化
【Key words】 DCpartial discharg(PD)signal analyzingaging
【基金】 国家自然科学基金联合基金(10476022);西南交通大学博士创新基金联合资助项目
  • 【文献出处】 电工技术学报 ,Transactions of China Electrotechnical Society , 编辑部邮箱 ,2006年04期
  • 【分类号】TM53
  • 【被引频次】22
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