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GaN基发光二极管的可靠性研究进展

Research and Progress in Reliability of GaN-Based LED

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【作者】 艾伟伟; 郭霞; 刘斌; 宋颖娉; 刘莹; 沈光地;

【Author】 AI Wei-wei, GUO Xia, LIU Bin, SONG Ying-ping, LIU Ying, SHEN Guang-di (Beijing Optoelectronic Technology Laboratory ,Beijing University of Technology, Beijing 100022,China)

【机构】 北京工业大学光电子技术实验室; 北京工业大学光电子技术实验室 北京 100022; 北京 100022;

【摘要】 高效高亮度GaN基发光二极管(LED)在图像显示、信号指示、照明以及基础研究等方面有着极为广阔的应用前景,器件的可靠性是实现其广泛应用的保证。本文从封装材料退化、金属的电迁移、p型欧姆接触退化、深能级与非辐射复合中心增加等方面介绍了GaN基LED的退化机理以及提高器件可靠性的措施,并对GaN基LED的应用前景进行了展望。

【Abstract】 High-brightness, high-efficiency GaN-based LEDs are of extreme promise in image display, signal indication, lighting and basic research, while reliability ensures the broad applications. This work presents the degradation mechanisms of GaN-based LED including degradation of the encapsulating material, electromigration of contact metal, p-W contact degradation, creation of deep levels and non-radiative recombination centers, and the measures improving reliability of the device. The foreground of GaN-based LEDs is overviewed.

【关键词】 氮化镓; 发光二极管; 退化机理; 可靠性;
【Key words】 GaN; LED; degradation mechanism; reliability;
【基金】 国家863重点项目(2004AA311030)北京市教育委员会科技发展计划重点项目(KZ200510005003)
  • 【文献出处】 半导体技术 ,Semiconductor Technology , 编辑部邮箱 ,2006年03期
  • 【分类号】TN312.8
  • 【被引频次】48
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