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用CCD测量汞干涉条纹(谱线)的宽度

Measurement of the Width of Interference Fringes (Spectral Line) of Mercury with Charge Coupled Device

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【Author】 FU Si_jing, TONG Zhou_sen, LI Ming (State Key Laboratory of Photoelectric Material and Technology∥Department of Physics, Sun Yat_sen(Zhongshan) University, Guangzhou 510275, China)

【机构】中山大学光电材料与技术国家重点实验室∥物理学系；中山大学光电材料与技术国家重点实验室∥物理学系广东广州510275；广东广州510275；广东广州510275；

【摘要】介绍了运用鲁末—盖格板及棱镜光谱仪得到某一波长谱线的干涉条纹 ,用CCD拍摄和计算机处理 ,能快捷地得到该谱线宽度的方法。更多还原

【Abstract】 Lummer_Gehrcke plate and prism spectrometer is used to get interference fringes of some wavelength spectral line.The data of the interference fringes are read with charge coupled device(CCD),and then the width of the spectrum can be got immediately.更多还原

【关键词】干涉条纹；半高全宽(FWHM)；电荷耦合器件(CCD)；计算机程序；
【Key words】 interference fringes； full width half maximun(FWHM)； charge coupled device(CCD)； computer program；

【基金】国家自然科学基金资助项目 (6 0 1780 2 0 );广东省自然科学基金资助项目 (0 112 0 4 )

【文献出处】中山大学学报(自然科学版) ,Acta Scientiarum Naturalium Universitatis Sunyatseni , 编辑部邮箱 ,2002年04期

【分类号】O433.1
【被引频次】3
【下载频次】179

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