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组合电路测试生成的神经网络建模研究与实现

Automatic Test Pattern Generation Model System Based on Neural Networks

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【作者】 徐红兵祝颖王厚军

【Author】 Xu Hongbing Zhu Ying Wang Houjun (School of Automation Engineering, UESTC, Chengdu 610054, China)

【机构】 电子科技大学自动化工程学院电子科技大学自动化工程学院 成都610054成都610054成都610054

【摘要】 针对组合电路的测试生成 ,采用神经网络进行了建模平台的研究与实现。通过建立神经网络基本单元库 ,对于注入故障的组合电路采用神经网络编译器自动生成神经网络模型 ,以完成组合电路基于神经网络算法的测试生成。实验验证表明了建模平台的有效性。

【Abstract】 A automatic test pattern generation model system for combinational circuits based on neural networks is described. Neural networks for 2-input gate constitute the basis set and gates with more than two inputs are constructed from this basis set, and the neural network model is generated by neural network compiler. Experiment results on combinational circuits confirm the feasibility of this system.

【基金】 国防预研基金资助课题 ( 0 0 J17.1.5 )
  • 【文献出处】 仪器仪表学报 ,Chinese Journal of Scientific Instrument , 编辑部邮箱 ,2002年S3期
  • 【分类号】TP183
  • 【被引频次】5
  • 【下载频次】91
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