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干涉图去包裹位相的二次校正

Double Revising after Phase Unwrapping of Interference Patterns

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【作者】 于瀛洁; 陈明仪; 韦春龙;

【Author】 Yu Yingjie Chen Mingyi Wei Chunlong (Dept. of Precision Mechanical Engineering, Shanghai University, Shanghai 200072,China)

【机构】 上海大学(延长校区)精密机械工程系; 上海大学(延长校区)精密机械工程系 上海 200072; 上海 200072; 上海 200072;

【摘要】 相位去包裹是移相干涉技术中关键的组成部分。一些去包裹算法在处理具有较多无效成像点的干涉图时,会在处理结果中引入较大的算法误差。提出了通过对去包裹位相进行二次校正的方法,实现去包裹位相算法误差的有效消除。文中通过基于DCT变换的最小二乘去包裹算法为例进行了说明,并通过一光学平晶表面的处理结果对方法进行了验证。

【Abstract】 Phase unwrapping is a key segment in phase-stepping technique. A big error will occur when using some phase unwrapping algorithms to process the interference patterns with many invalid imaging points. The paper presents a double revising method to process unwrapping phase to remove its algorithm error. The paper uses the least-squares algorithm by the discrete cosine transform (DCT) as an example to explain this method. The test results of an optical flat testify its correctness.

【基金】 上海市教育委员会青年基金资助项目。
  • 【文献出处】 仪器仪表学报 ,Chinese Journal of Scientific Instrument , 编辑部邮箱 ,2002年05期
  • 【分类号】TH744.3
  • 【被引频次】9
  • 【下载频次】180
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