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Rietveld全谱拟合法测定Sr2GdRuO6的晶体结构

Rietveld Refinement of X-ray Diffraction Data for Sr2GdRuO6

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【作者】 郝水侠；

【Author】 HAO Shui xia (Department of Mathematics,Xuzhou Normal University,Xuzhou 221116,China)

【机构】 徐州师范大学数学系 江苏徐州221116；

【摘要】 扼要介绍X射线粉末衍射的Rietveld全谱拟合理论和计算方法 ,并用GSAS程序对双钙钛矿结构的氧化物Sr2 GdRuO6的晶体结构作了Rietveld全谱拟合计算

【Abstract】 The author introduces the theory and procedure of Rietveld Refinement of X ray diffraction data, and calculate the crystal structure of double perovskite oxide Sr 2GdRuO 6 by GSAS.

【关键词】 Rietveld全谱拟合； GSAS； Sr2GdRuO6；
【Key words】 rietveld refinement； GSAS； Sr 2GdRuO 6；
  • 【文献出处】 徐州师范大学学报(自然科学版) ,Journal of Xuzhou Normal University(Natural Science Edition) , 编辑部邮箱 ,2002年03期
  • 【分类号】O741
  • 【被引频次】6
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