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Cpk与控制图的检出力（1-β）

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【作者】 魏世振； 韩玉启；

【机构】 南京理工大学经济管理学院； 南京理工大学经济管理学院；

【关键词】 控制图； pk； 不合格品率； 过程能力指数； 控制界限； 样本容量； 返工率； 通用电器公司； 合格产品； 密度函数；
  • 【文献出处】 统计与决策 ,Statistics and Decision , 编辑部邮箱 ,2002年02期
  • 【分类号】F224
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