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提高集成电路后工序成品率的方法
The Method of Improving the IC Finished-Product Yield in the Back Process
【摘要】 本文从生产实际出发 ,剖析了影响集成电路后工序成品率的原因 ,并针对生产线工序指数能力着手 ,找到了解决问题的方法 ,使成品率有了很大的提高
【Abstract】 The cause of impairing the IC finished-product rate in the back process is analyzed,and according to the assembly line’s process ability index, the solving method is found as a result, the product yield is more increased.
- 【文献出处】 山东电子 ,Shangdong Electronics , 编辑部邮箱 ,2002年02期
- 【分类号】TN406
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