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光电显微镜在孔径测量中的应用

The Application of Photoelectric Microscope to Measuring Aperture

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【作者】 何学军; 熊昌友; 李华峰; 何英;

【Author】 He Xue jun,Xiong Chang you,Li Hua feng,He Ying (Changcheng Institute of Metrology & Measurement of China Aviation,Beijing 100095,China)

【机构】 中国航空长城计量测试技术研究所; 中国航空长城计量测试技术研究所 北京100095; 北京100095; 北京100095;

【摘要】 静态光电显微镜在测量中可进行非接触瞄准 ,提高了瞄准精度 ,而且为检测自动化提供了可靠的基础。结合光电显微镜的瞄准原理 ,建立数学模型可测量内孔孔径

【Abstract】 Measurement of non contact alignment with static photoelectric microscope improves the precision of aim and offers the reliable base of automeasurement.Combining with the alignment principle of the photoelectric microscope and establishing the mathematic model,the diameter of the inside pore can be measured.

【关键词】 静态; 光电显微镜; 模型; 孔径;
【Key words】 static statel; photoelectric microscope; model; pore diameter;
【基金】 航空科学基金资助项目 (0 0 14 4 0 4)
  • 【文献出处】 航空计测技术 ,Aviation Metrology & Measurement Technology , 编辑部邮箱 ,2002年06期
  • 【分类号】TH742
  • 【被引频次】10
  • 【下载频次】226
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