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一种基于遗传算法的红外无损检测缺陷的新方法

A Novel Defect Evaluation Method in Infrared NDT Based on Genetic Algorithm

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【作者】 梅林吴立德王裕文

【Author】 Mei Lin Wu Lide Wang Yuwen1), Department of Computer Science and Engineering, Fudan University, Shanghai 200433 2), School of Mechanical Engineering, Xi’an Jiaotong University, Xi’an 710049

【机构】 复旦大学计算机科学与工程系西安交通大学机械工程学院 上海 200433上海 200433西安 710049

【摘要】 红外无损检测的本质可归为热传导反问题的求解。利用通过解析法求解热传导正问题得出的结论,提出基于遗传算法优化求解的红外无损检测缺陷信息新方法,该算法采用浮点数编码,并采用多遗传算子并行操作,不仅获得了好的结果,而且维系了种群的多样性。模拟实验验证了算法的鲁棒性和可靠性。

【Abstract】 The essence of infrared nondestructive testing is to find a solution to inverse problem of heat conduction. A novel solving method to this problem based on genetic algorithm was proposed. It uses floating point coding technique and multi-operators parallel style to improve the precision of the result and to maintain the variety of the group. The simulation experimental results prove that this method behaves a strong robustness and reliability.

  • 【文献出处】 光学学报 ,Acta Optica Sinica , 编辑部邮箱 ,2002年12期
  • 【分类号】TN219
  • 【被引频次】45
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