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压痕法测定薄膜(涂层)的界面结合强度

Determination of the Interfacial Bonding Strength of Thin Films and Coatings Using Indentation Method

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【Author】 LI He qing, CAI Xun, MA Feng, CHEN Qiu long (Shanghai Jiaotong University, Shanghai 200030, China)

【机构】上海交通大学教育部高温材料及高温测试开放实验室；上海交通大学教育部高温材料及高温测试开放实验室上海200030；上海200030；上海200030；

【摘要】讨论了压痕法测定薄膜 (涂层 )界面结合强度的两个模型 ,包括Chiang模型和Evans模型 ,并就薄膜 (涂层 )界面结合强度的压痕法表征提出了一些新的见解。更多还原

【Abstract】 This paper discussed the advantages and disadvantages of both Chiang model and Evans model established for determination of the interfacial bonding strength of thin films and coatings using indentation method. What is more, some new viewpoints about how to evaluate the interfacial bonding strength of thin films and coatings using indentation method are presented.更多还原

【关键词】压痕法；界面结合强度；有限元分析；
【Key words】 lndentation method； interfacial bonding strength； finite element analysis；

【基金】国家自然科学基金资助项目 (5 99710 3 0 )

【文献出处】机械工程材料 ,Materials For Mechanical Engineering , 编辑部邮箱 ,2002年04期

【分类号】O484.5
【被引频次】61
【下载频次】1219

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