节点文献

微波功率GaAs MESFET本征元件与偏置关系分析

Analyses of Intrinsic Elements with Biasings for Microwave Power GaAs MESFET′s

  • 推荐 CAJ下载
  • PDF下载
  • 不支持迅雷等下载工具,请取消加速工具后下载。

【作者】 顾聪刘佑宝高一凡

【Author】 GU Cong LIU Youbao(Xi′an Microelectronics Technology Institute,710054,CHN) GAO Yifan(Chang′an University,Xi′an,710064,CHN)

【机构】 西安微电子技术研究所长安大学 710054710054西安710064

【摘要】 提出了一种分析和了解微波功率 Ga As MESFET非线性效应的方法。主要是采用解析优化方法 ,提取 MESFET器件在不同偏置点下的本征元件 ,并结合器件的应用类型 ,对本征元件与偏置的关系进行了系统化的分析。分析的结论有助于提高微波功率 Ga As MESFET器件设计和应用的准确性

【Abstract】 A method of analyzing and understanding of microwave power GaAs MESFET’s nonlinear effects is presented.The systematic analyses of the relation of intrinsic elements with biasings are completed by extracting intrinsic elements of MESFET device under different biasings with analytical optimal approach combining with the kinds of device application.The conclusions of the analyses are helpful to improve the accuracy of design and application of microwave power GaAs MESFET device.

  • 【文献出处】 固体电子学研究与进展 ,Research & Progress of Solia State Electronics , 编辑部邮箱 ,2002年01期
  • 【分类号】TN454
  • 【下载频次】71
节点文献中: 

本文链接的文献网络图示:

本文的引文网络