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焊料凸点回流时的桥接现象研究

Bridge Joints Caused by Solder Bumps in Reflow Soldering

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【作者】 刘豫东谭智敏钱志勇马莒生

【Author】 LIU Yu-dong1, TAN Zhi-min2, QIAN Zhi-yong1, MA Ju-sheng1 (1. Department of Material Science and Engineering, Tsinghua University, Beijing 100084;2. Institute of Microelectronic, Tsinghua University, Beijing 100084)

【机构】 清华大学材料科学与工程系清华大学微电子所清华大学材料科学与工程系 北京100084北京100084北京100084

【摘要】 在用回流焊料凸点时,常会发生凸点的桥接现象,致使芯片报废。此时,相邻的多个凸点彼此融合,聚集成一个更大的焊料球,并吸干先前各凸点中的焊料。本文研究了电镀PbSn凸点和蒸发铟凸点的回流过程中出现的桥接现象。介绍了桥接现象产生的过程及其背景,分析了桥接现象的机理,提出了改进措施。

【Abstract】 Bridge joints caused by solder bumps in reflow soldering may result in chip failure. In reflow soldering, adjacent bumps may form a big ball when they are melted. The formation of bridge joints caused by electroplated Pb/Sn bumps and evaporated indium bumps in reflow soldering was investigated. The technical conditions resulting in the formation of the bridge joints and the formation mechanism are analyzed, and a method is proposed to avoid the failure.

【关键词】 凸点电镀桥接
【Key words】 solder bumpselectroplatingbridge joints
【基金】 国家自然科学基金资助项目(69836030)
  • 【文献出处】 电子元件与材料 ,Electronic Components $ Materials , 编辑部邮箱 ,2002年08期
  • 【分类号】TN405
  • 【被引频次】5
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