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ZnO压敏电阻的化学蜕变

Chemical Degradation in ZnO-based Varistors

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【作者】 李标荣陈万平陈王丽华

【Author】 LI Biao-rong1, CHEN Wan-ping2, CHENWANG Li-hua2 (1. Guangzhou Sunrise Electronic Co., Ltd., Guangzhou Guangdong 510335; 2. Dept. of Appl. Physics, Hong Kong Polytechnic University, Kowloon Hong Kong)

【机构】 广州新日电子有限公司香港理工大学应用物理系香港理工大学应用物理系 广东广州510335香港九龙香港九龙

【摘要】 ZnO压敏电阻在0.05 mol/L NaOH的电解液中作直流电解处理后,出现化学蜕变,漏电流增加、非线性特性减弱,经热处理后其压敏特性又可恢复。它与通常的电学蜕变不同,经论证认为,这种蜕变是属于氢原子在瓷体晶粒边界附近中的还原作用所致。文中还讨论了其可能的蜕变机理。

【Abstract】 ZnO varistors being placed in a 0.05 mol/L NaOH solution to be DC electrolyzed can lead to increased leakage current, weakened nonlinear characteristic and other degradation phenomena. After heat treatment at 650℃, its characteristic can be recovered. The mechanism is different from conventional electrical degradation. It is proved that it is the hydrogen atoms produce reduction reaction round the grain boundaries of the ceramics. The possible degradation mechanism is also discussed.

  • 【文献出处】 电子元件与材料 ,Electronic Components $ Materials , 编辑部邮箱 ,2002年04期
  • 【分类号】TN384
  • 【被引频次】3
  • 【下载频次】73
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