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集电极取样电路具有缺陷的晶体管特性图示器改进方法

AMELIORATION OF COLLECTING ELECTRODE SAMPLING CIRCUIT IN TRANSISTOR CHARACTERISTIC EXHIBIT INSTRUMENT

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【作者】 顾江范瑜

【Author】 Gu Jiang Fan Yu (Changshu College,Changshu,215500)

【机构】 常熟高等专科学校常熟高等专科学校 常熟215500常熟215500

【摘要】 JT - 1型晶体管特性图示器由于其读测简便、直接显示的优点而被广泛采用 ,但有的晶体管特性图示器集电极取样电路设计具有一定的缺陷 ,会给测量带来严重的影响。本文提出了自己的观点 ,并给出了改进方法

【Abstract】 Being simple and convenient in usage,transistor exhibit instrument isused widely.But some of them have disfigurement,their collecting electode sampling circuit has some limitation.So it will cause serious effect in measuring .Inthis paper,A new method is put forward to ameliorate the circuit.

  • 【文献出处】 大学物理实验 ,College Physical Experiment , 编辑部邮箱 ,2002年01期
  • 【分类号】TN32
  • 【下载频次】32
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