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一种智能型密封性能测试装置

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【作者】 郭瑞平；

【机构】 本溪冶金高等专科学校 117022；

【摘要】 针对当前密封性能测试技术中存在的问题 ,提出了一种智能型密封性能测试装置的设计方案。实践结果表明 ,该装置设计合理 ,性能良好 ,具有较高的实用价值

【关键词】 单片机； 密封性能； 压力信号； 传感器；
  • 【文献出处】 电工技术杂志 ,Electrotechnical Journal , 编辑部邮箱 ,2002年06期
  • 【分类号】TB42
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