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MEMS可靠性技术

Reliability technology of MEMS

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【作者】 冯亚林李莉李霁红郝一龙

【Author】 FENG Ya-lin 1 ,LI Li 2 ,LI Ji-hong 2 ,HAO Yi-long 1(1.Inst.of Microelectronics,Beijing Univ.,Beijing100871,China;2.The9th Group,P.O.Box No .122,Beijing100036,China)

【机构】 北京大学微电子所北京大学微电子所 北京100871北京市122信箱9室北京100036北京100871

【摘要】 MEMS的可靠性是其能否成功应用的一个关键。本文对MEMS可靠性测试的要求与可靠性测试系统ShiMMeR进行了分析,通过对MEMS的可靠性实验与失效模型的综述,对MEMS的可靠性设计进行了探讨。

【Abstract】 One of the key for successful application of MEMS is in proving its reliability.In this pa-per,the reliability testing require for MEMS and reliability testing system ShiMMeR were analyzed,reliability experiments and failure modes of MEMS were summarized,and reliability design for MEMS was discussed.

【关键词】 MEMS可靠性失效模型测试
【Key words】 MEMSreliabilityfailure modetesting
  • 【文献出处】 微纳电子技术 ,Semiconductor Information , 编辑部邮箱 ,2002年03期
  • 【分类号】TP21
  • 【被引频次】12
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